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晶振系列

首頁(yè)進(jìn)口晶振日本NDK晶體日本NDK晶振NZ2016SH,NZ2016SH-24.000MHZNSC5022C汽車(chē)電子專(zhuān)用晶振

    日本NDK晶振NZ2016SH,NZ2016SH-24.000MHZNSC5022C汽車(chē)電子專(zhuān)用晶振

  • 規(guī)格型號(hào)：46323491
  • 頻率：24MHz
  • 尺寸：2.0mm×1.6mm
  • PDF
  • 產(chǎn)品描述：日本NDK晶振,NZ2016SH石英晶體振蕩器,NZ2016SH-24.000MHZNSC5022C汽車(chē)電子專(zhuān)用晶振,2016mm晶振,小體積晶振,汽車(chē)導(dǎo)航系統(tǒng)晶振,汽車(chē)音響設(shè)備晶振,智能手機(jī)晶振,平板電腦晶振,筆記本電腦晶振,音頻設(shè)備晶振,無(wú)線(xiàn)模塊晶振,...


日本NDK晶振NZ2016SH,NZ2016SH-24.000MHZNSC5022C汽車(chē)電子專(zhuān)用晶振
參數(shù):頻率24MHZ
電源電壓: 3V
負(fù)載電容: 15PF
工作溫度: -40℃~+85℃
保存溫度: -55℃~+125℃
精度 +/-50ppm
輸出方式：CMOS
尺寸：薄小輕型2.0*1.6mm
應(yīng)用：汽車(chē)導(dǎo)航系統(tǒng),汽車(chē)音響設(shè)備及攝像頭,智能手機(jī),平板電腦,筆記本電腦,音頻設(shè)備,無(wú)線(xiàn)模塊等產(chǎn)品


     日本NDK晶振NZ2016SH,NZ2016SH-24.000MHZNSC5022C汽車(chē)電子專(zhuān)用晶振NDK集團(tuán)作為頻率的綜合生產(chǎn)企業(yè)，為了向客戶(hù)提供高信賴(lài)性品質(zhì)的晶振產(chǎn)品，我們始終追求最高品質(zhì)的產(chǎn)品生產(chǎn)和服務(wù)，以「通過(guò)對(duì)客戶(hù)的服務(wù)，為社會(huì)繁榮和世界和平作貢獻(xiàn)」這樣的公司創(chuàng)業(yè)理念作為我們的使命，今后也會(huì)為社會(huì)的[安全、安心、舒適]作出貢獻(xiàn)。請(qǐng)各位繼續(xù)給予我們支持！
    由此，本集團(tuán)將方針轉(zhuǎn)換至面向量產(chǎn)市場(chǎng)的產(chǎn)品的再?gòu)?qiáng)化上，把均衡縮減戰(zhàn)略切換成成長(zhǎng)戰(zhàn)略。并且展開(kāi)在產(chǎn)業(yè)設(shè)備、車(chē)載、傳感器領(lǐng)域，利用高的品質(zhì)力和技術(shù)力用實(shí)力強(qiáng)的石英晶振創(chuàng)造出利益的中期銷(xiāo)售計(jì)劃。

NDK晶振型號(hào) NZ2016SH晶振 石英晶體振蕩器
輸出類(lèi)型 CMOS
輸出負(fù)載 15pF,
振蕩模式 基本/第三泛音
電源電壓 3V
標(biāo)準(zhǔn)頻率 24MHZ
頻率穩(wěn)定度 ±50ppm 
工作溫度 - 40 ~ + 85 ℃
保存溫度 - 55 ~ + 125 ℃
電壓卷（最大值）/ VOH（最小值） 0.1 VDD / 0.9 VDD
啟動(dòng)時(shí)間 4 ms Max.
老化率 ±1 ppm /年最大。

日本NDK晶振NZ2016SH,NZ2016SH-24.000MHZNSC5022C汽

日本NDK晶振NZ2016SH,NZ2016SH-24.000MHZNSC5022C汽車(chē)電子專(zhuān)用晶振
噪音
在電源或輸入端上施加執(zhí)行級(jí)別(過(guò)高)的不相干(外部的)噪音，可能導(dǎo)致會(huì)引發(fā)功能失常或擊穿的閉門(mén)或雜散現(xiàn)象。
電源線(xiàn)路
電源的線(xiàn)路阻抗應(yīng)盡可能低。
輸出負(fù)載
建議將輸出負(fù)載安裝在盡可能靠近貼片晶振的地方（在20 mm范圍之間）。
未用輸入終端的處理
未用針腳可能會(huì)引起噪聲響應(yīng)，從而導(dǎo)致非正常工作。同時(shí)，當(dāng)P通道和N通道都處于打開(kāi)時(shí)，電源功率消耗也會(huì)增加；因此，請(qǐng)將未用輸入終端連接到VCC 或GND。
熱影響
重復(fù)的溫度巨大變化可能會(huì)降低受損害的晶體單元的產(chǎn)品特性，并導(dǎo)致塑料封裝里的線(xiàn)路擊穿。必須避免這種情況。
安裝方向
振蕩器的不正確安裝會(huì)導(dǎo)致故障以及崩潰，因此安裝時(shí)，請(qǐng)檢查SMD晶振安裝方向是否正確。
通電
不建議從中間電位和/或極快速通電，否則會(huì)導(dǎo)致無(wú)法產(chǎn)生振蕩和/或非正常工作。

日本NDK晶振NZ2016SH,NZ2016SH-24.000MHZNSC5022C汽車(chē)電子專(zhuān)用晶振
輸出波形與測(cè)試電路
1.時(shí)序表

2.    測(cè)試條件
(1)   電源電壓
   超過(guò) 150µs，直到電壓級(jí)別從 0 %達(dá)到 90 % 。
  電源電壓阻抗低于電阻 2Ω。
(2)   其他
   輸入電容低于 15 pF
   5倍頻率范圍或更多測(cè)量頻率。
   鉛探頭應(yīng)盡可能短。
   測(cè)量頻率時(shí)，探頭阻抗將高于 1MΩ。當(dāng)波形經(jīng)過(guò)振蕩器的放大器時(shí)，可同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。
(3)   其他
    CL包含探頭電容。
    應(yīng)使用帶有小的內(nèi)部阻抗的電表。
    使用微型插槽，以觀(guān)察波形。
（請(qǐng)勿使用該探頭的長(zhǎng)接地線(xiàn)。）

3.    測(cè)試電路

NZ2520SEA ：在頻率電壓控制功能時(shí)，進(jìn)行連接
（1）CMOS 負(fù)載
型號(hào)：
NZ2520SEA
（2） 抗低,電容負(fù)載
型號(hào)：
NZ2520SEA		               
（3） TTL 負(fù)載
型號(hào)：
NZ2520SEA		                
（4） LV-PECL 負(fù)載
型號(hào)：
NZ2520SEA		                  
（5）LV-PECL 負(fù)載
型號(hào)：
NZ2520SEA
（6） LV-PECL 負(fù)載
型號(hào)：
NZ2520SEA
（7） LVDS 負(fù)載
型號(hào)：
NZ2520SEA
（8） HCSL 負(fù)載
型號(hào)：
NZ2520SEA


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