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首頁(yè)常見問題 導(dǎo)致晶振失效的原因分析

導(dǎo)致晶振失效的原因分析

來(lái)源:http://wyss.net.cn 作者:jinluodz 2013年09月05
   晶振沒有內(nèi)在失效機(jī)制。有些可以工作數(shù)十年也沒有出現(xiàn)失效。振蕩器失效(超出規(guī)格范圍)有時(shí)是以下原因造成:
   較差的制作工藝和品質(zhì)控制 。例:焊點(diǎn)松動(dòng) 、封裝漏氣、材料偶然故障。
   1.因老化嚴(yán)重且調(diào)整范圍不足,頻偏超出標(biāo)準(zhǔn)范圍。
   2.因老化影響,TCXO的頻率溫度特性退化。
   3.因溫度設(shè)置點(diǎn)的漂移,OCXO的頻率溫度特性退化。
   4.因頻繁的浸漬使振蕩停止、頻偏超出標(biāo)準(zhǔn)范圍、在某些溫度下變成噪音。
   5.因使用未清潔的晶片或電路元件參數(shù)選擇不當(dāng)使在電離輻射時(shí),振蕩停止、頻偏超出標(biāo)準(zhǔn)范圍。   
   6.因振動(dòng)引起的噪聲使振蕩器噪聲超標(biāo)。
   7.因表面加工不當(dāng),沖擊時(shí)使晶片破裂。

 
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